Liquid Crystal/ITO/Glass System Characterization Obtained by X-Ray Reflectivity Measurements STEFANO PERUZZI a , ELZA BONTEMPI a , CARLO VERSACE b and LAURA ELEONORA DEPERO a§ a INFM, Unita` di Brescia, Structural Chemistry Laboratory, Dipartimento di Ingegneria Meccanica, Universita` di Brescia, Via Branze 38, 25123 Brescia, Italy and b INFM, Unita` di Cosenza, Dipartimento di Fisica, Universita` della Calabria, 1-87036 Arcavacata di Rende (Cosenza), Italy x ref. author Depero e-mail: depero@bsing.ing.unibs.it Mol. Cryst. and Liq. Cryst., 2001, Vol. 372, pp. 339-352 # 2001 Taylor and Francis, Inc. 339