ÓPTICA PURA Y APLICADA. www.sedoptica.es Opt. Pura Apl. 46 (2) 137‐146 (2013) ‐ 137 ‐ © Sociedad Española de Óptica Sección Especial / Special Section: X Reunión Nacional de Óptica Microscopía de barrido con muestreo espacial del plano del detector Scanning microscopy with spatial sampling of the detector plane Emilio Sánchez‐Ortiga (1,*,S) , Genaro Saavedra (1,S) , Colin Sheppard (2) , Ana Doblas (1,S) , Manuel Martínez‐Corral (1,S) , Pedro Andrés (1,S) 1. Departamento de Óptica, Universidad de Valencia, Dr. Moliner 50, 46100, Burjassot, Spain. 2. Division of Bioengineering, National University of Singapore, 7 Engineering Drive 1, Singapore. (*) Email: Emilio.Sanchez@uv.es S: miembro de SEDOPTICA / SEDOPTICA member Recibido / Received: 10/12/2012. Revisado / Revised: 26/02/2013. Aceptado / Accepted: 01/03/2013. DOI: http://dx.doi.org/10.7149/OPA.46.2.137 RESUMEN: Se presenta la implementación de un microscopio confocal de barrido en el cual se emplea como detector una cámara CCD. Este tipo de detección posee numerosas ventajas con respecto a la detección típica en la microscopia confocal. Se demuestra la aplicabilidad de nuestro sistema que, al realizar un muestreo espacial de la distribución de intensidades en el plano del detector, permite llevar a cabo técnicas de aumento de la resolución tridimensional del sistema. Palabras clave: Microscopía Láser Confocal de Barrido, Imagen 3D, Super‐Resolución. ABSTRACT: We present the implementation of a confocal scanning microscope in which the signal detection is performed through a matrix sensor, specifically, a CCD camera. This kind of detection has several advantages over the conventional detection in confocal microscopes. One of those advantages is the possibility to recover information of the sample that vanishes when the confocal image is directly acquired by the integration of light into a signal. We demonstrate the applicability of the system which allows implementing super‐resolution techniques in a very easy manner. Key words: Confocal Laser Scanning Microscopy, 3D Imaging, Super‐Resolution. REFERENCIAS Y ENLACES / REFERENCES AND LINKS [1]. E. Sánchez‐Ortiga, C. J. R. Sheppard, G. Saavedra, M. Martínez‐Corral, A. Doblas, A. Calatayud, Dz   confocal scanning m       dzǡ Opt. Lett. 37, 1280‐1282 (2012). DOI [2]. C. J. R. Sheppard, A. Choudhury, DzImage formation in scanning microscopedz, Opt. Acta 24, 1051‐1073 (1977). DOI [3]. Ǥ ǡ Ǥ ǡ Dz       dz, Opt. Lett. 12, 227‐229 (1987). DOI [4]. Ǥ ǡ  Ǥ ǡ Dz       dz, Appl. Opt. 27, 3791‐3799 (1988). DOI [5]. R. Heitzmann, V. Sarafis, P. Munroe, J. Nailon, Q. S. Hanley, Ǥ Ǥ ǡ Dz           dzǡ Micron 34, 293‐300 (2003). DOI [6]. C. J. R. Sheppard, Ǥ Ǥ ǡ Dz    dzǡ J. Mod. Opt. 37, 267‐279 (1990). DOI [7]. M. Martínez‐Corral, Ǥ ǡ Dz    ͵  dzǡ Prog. Opt. 53, 1‐ 67 (2009). DOI