30/10/2017 Mapeamento de Superposição de Patentes: Visualizando Distância Tecnológica Luciano Kay, Centro de Nanotecnologia … https://translate.googleusercontent.com/translate_f 1/29 Página 1 1 Mapeamento de Superposição de Patentes: Visualizando Distância Tecnológica Luciano Kay, Centro de Nanotecnologia na Sociedade, da Universidade da Califórnia em Santa Barbara, Santa Barbara, CA, EUA, e-mail: luciano@cns.ucsb.edu Nils Newman, Intelligent Information Services Corporation, Atlanta, GA, EUA, e- enviar: newman@iisco.com Jan Youtie, o Enterprise Innovation Institute & Escola de Política Pública, Atlanta, GA, EUA, e-mail: jan.youtie@innovate.gatech.edu Alan L. Porter, Escola de Políticas Públicas, Georgia Institute of Technology, Atlanta GA & Search Technologies, Norcross, GA, EUA, e-mail: alan.porter@isye.gatech.edu Ismael Rafols, Ingenio (CSIC-UPV), UniversitatPolitècnica de Valencia, Valência, Espanha & SPRU - Pesquisa de Políticas de Ciência e Tecnologia, Universidade de Sussex, Brighton, Inglaterra, e-mail: i.rafols@ingenio.upv.es Aceito em outubro de 2013 no Jornal da Sociedade Americana de Ciência da Informação e Tecnologia (JASIST) Outras informações e arquivos complementares disponíveis em http://interdisciplinaryscience.net/topics/patmap Abstrato Este artigo apresenta um novo mapa de patente global que representa todas as categorias tecnológicas, e um método para localizar dados de patentes de organizações individuais e campos tecnológicos em o mapa global. Esta técnica de mapa de sobreposição pode suportar inteligência competitiva e decisão política. O mapa de patente global baseia-se em semelhanças em citar a citar relacionamentos entre categorias da Classificação Internacional de Patentes (IPC) de Patentes do Escritório Europeu de Patentes (EPO) de 2000 a 2006. Este conjunto de dados de patentes, extraído da base de dados PATSTAT, inclui 760 000 registros de patentes em 466 IPC categorias. Comparamos os mapas de patentes globais derivados desta categorização com os relacionados esforços de outros mapas de patentes globais. O papel sobrepõe patenteamento relacionado com a nanotecnologia atividades de duas empresas e dois subcampos de nanotecnologia diferentes no mundo mapa de patente. O exercício mostra o potencial dos mapas de sobreposição de patente para visualizar áreas tecnológicas e potencialmente apoiar a tomada de decisões. Além disso, este estudo mostra que as categorias do IPC são semelhantes entre si com base em padrões citados a citados (e, portanto, estão próximos no mapa de patente global) não estão necessariamente na mesma hierarquia Ramo do IPC, revelando assim novas relações entre tecnologias que são classificadas como pertencentes a diferentes áreas (e às vezes distantes) no esquema IPC.