Revista CPC, São Paulo, n. 6, p. 188-197, maio 2008/out. 2008 188 Caracterização de bens culturais por espectroscopia de fluorescência de raios X Augusto Câmara Neiva*, Jérémie Dron** Escola Politécnica da Universidade de São Paulo (Poli/USP) Departamento de Engenharia Química LEC (Laboratório de Eletroquímica e Corrosão) Tel.: +(55) (11) 309-2228; fax: (55)(11) 3031-3020 www.poli.usp.br Resumo O presente trabalho descreve o espectômetro EDXRF desenvolvido pelo LEC/USP para caracterização de peças de aço produzidas na primeira siderúrgica brasileira, a Fábrica Ipanema, e de peças metálicas da coleção pré-hispânica do Museu de Arqueologia e Etnologia da USP. Os procedimentos para quantificação aproximada de titânio nas peças de Ipanema, e para identificação de eventuais elementos minoritários nas ligas de ouro-cobre-prata das peças pré-hispânicas, bem como os resultados alcançados, são aqui analisados, a fim de verificar a adequação do equipamento diante das condições efetivas de trabalho. Palavras-chave: Espectroscopia de fluorescência de raios X. Arqueometria. Patrimônio cultural. Introdução A espectroscopia de fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDXRF – Energy- Dispersive X-Ray Fluorescence) é uma técnica não-destrutiva que permite a identificação e a quantificação de elementos a partir de um dado número atômico tipicamente a partir de Na, em He ou vácuo, e de Al, ao ar em materiais de qualquer natureza. Por não exigir vácuo e poder utilizar componentes de pequenas dimensões, o equipamento pode ser utilizado para análises in situ e não há limitações de tamanho