tecnología e innovación | 265 _________________ 1. Instituto Nacional de Asunción, Facultad Politécnica, Paraguay. 2. Universidad Complutense de madrid, Facultad de Informática, España. E-mail: fefernandez@pol.una.py DOI: 10.26885/rcei.foro.2019.265 Trabajo publicado en acceso abierto bajo Licencia Creatve Commons. Mejora de la tolerancia a fallos en circuitos empotrados Federico Fernández 1 , Juan C. Fabero 2 , Hortensia Mecha 2 Resumen Introducción: En el espacio exterior es frecuente la presencia de partculas de alta energía que no llegan a la terra debido a la protección que brinda la magnetósfera que lo envuelve, siendo tres las fuentes de radiación: El viento solar, los rayos cósmicos y las partculas atrapadas en el cinturón de Van Allen. El desarrollo tecnológico que envuelve a la fabricación de los circuitos integrados permite que los mismos sean cada vez más densos, es decir mayor concentración de transistores en menor espacio, que los mismos tengan una menor tensión de funcionamiento y mayor frecuencia de operación por lo que el impacto de estas partculas puede producir fallas en su funcionamiento debido a la interacción entre las mismas y los circuitos integrados. Por otro lado es cada vez más creciente la tendencia a utlizar dispositvos reconfgurables en diseños de sistemas digitales de alta complejidad, por sus característcas únicas de poder ser reconfgurados en tempo real, es decir, modifcar una parte del diseño del circuito sin necesidad de detener el funcionamiento del mismo. Los sistemas electrónicos que funcionan en el espacio como los satélites, misiles guiados, etc. son susceptbles de sufrir el impacto de las partculas cargadas por lo que pueden sufrir daños parciales o permanentes. Estos eventos se denominan SEE (Single Event Efects). Los circuitos digitales deben tener un mecanismo que les permita recuperarse cuando se presente uno de estos eventos. Uno de ellos es utlizar la técnica TMR (Triple Modular Redundancy). Esta técnica consiste en la triplicación de los módulos crítcos del sistema, de manera que las salidas de las tres réplicas se someten al escrutnio de un votador, que detecta cualquier discrepancia en el resultado proporcionado por cualquiera de ellas. Si uno de los circuitos es impactado por una partcula cargada se puede reemplazarlo por medio de reconfguración parcial dinámica por lo que la combinación de técnicas TMR (Triple Modular Redundancy) y reconfguración parcial dinámica de la FPGA dotará de robustez al sistema electrónico ante la aparición de fallos